[리포트] 주사전자현미경을 이용한 미세구조 관찰
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작성일 23-11-08 09:29
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3.2 주사전자 현미경(Scanning Electron Microscope: SEM)
시료 표면의 입체구조를 직접 觀察(관찰) 하는 기능을 가진 전자현미경이고, 약칭은 SEM이다.실험과제/기타
설명
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實驗(실험)タイトル: 주사전자현미경을 이용한 미세구조 觀察(관찰)
1.實驗(실험)목적
본 實驗(실험)에서는 주사전자현미경 (Scanning Electron Microscope: SEM)을 이용하여 재료의 미세구조를 觀察(관찰) 하는 방법을 학습한다. 주사전자현미경은 전자기렌즈로 작게 축소된 전자선으로 시료 표면을 주사하여 표면으로부터 발생하는 2차전자·반사전자 등을 증폭하고 이들 양자강도를 휘도(輝度)로 바꾸어 브라운관에 결상시킨다. 시료 내의 원소로부터 발생하는 특정 X선을 analysis(분석) 하는 X선마이크로analysis(분석) 기와 …(skip)
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[리포트] 주사전자현미경을 이용한 미세구조 관찰
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[리포트] 주사전자현미경을 이용한 미세구조 관찰
다.
2.實驗(실험) 준비물
표준시험편 (바륨타이네이트(BaTiO3) 등 세라믹 분말 및 소결체
주사전자현미경
Image analyzing software
3.theory 적 배경
3.1 구조-물성-프로세싱의 관계
재료의 미세구조는 프로세싱에 의하여 變化(변화)가 가능하며, 이러한 미세구조의 變化(변화)는 최종 재료의 물성과 밀접한 관계가 있다 따라서 최종 물성을 예측하기 위해서 미세구조를 파악할 필요가 있으며, 이를 위하여 본 實驗(실험)에서는 주사전자 현미경을 활용하기로 한다.
